RecodeX 重构消息,共封装光学(CPO)量产环节的测试瓶颈正从光学对准转向速度与成本。目前光学对准时间已降至数秒甚至更短,但一颗光子集成电路的完整测试仍需超过100秒,成为制约量产效率的关键环节。